فایلی که اینک در هایپر فایل قرار دادیم ، فایلی است که دانلود مقاله ترجمه شده با عنوان قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی- الگوریتم های موازی می باشد امیدواریم این مجموعه سوالات برای شما مفید واقع شود
جزئیات بیشتر این محصول:
عنوان انگلیسی مقاله:
arallel algorithm for finding modules of large- scale coherent fault trees
عنوان فارسی مقاله:
قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی- الگوریتم های موازی برای پیدا کردن نمونه های بزرگ درختان خطای منسجم
فرمت فایل ترجمه شده: word، قابل ویرایش.
تعداد صفحات فایل ترجمه شده: 10
تعداد صفحات فایل اصلی: 4
دانلود بهترین فایل ها و برنامه های کاربردی
دانلود نمونه سوالات آزمون بهیاری ورودی دبیرستان پایه دهم